| 主板SIUSB3Clock時序測試服務電磁兼容性高低溫可靠性實驗室 |
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價格：380.00 元(人民幣) | 產地：上海上海 |
| 最少起訂量：1 | 發貨地：上海上海 | |
| 上架時間：2023-10-02 12:22:19 | 瀏覽量：61 | |
上海博達數據通信有限公司
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主板SI USB3.0，3.1Clock時序測試服務電磁兼容性高低溫可靠性實驗室 一. 信號完整性 目的 信號完整性測試，是作為提高產品電氣特性方面性能的參考依據。主要對主板上的COCLK,SPI, MDIO, PCIe, DDR3，RGMII，SFP ，QSFP，I2C等項目進行測試分析。 三、PCIE 3.0的測試 首先要說明的一點是，由于PCIE 3代目前只頒布了Base的規范（即芯片規范），但CEM規范（即主板和插卡的規范）和測試規范還沒有正式發布，所以下面介紹的方法是基于目前的通用做法，以后隨著規范的正式發布，具體測試方法可能還有變化。 數據眼圖（Data Eye）使用偽隨機碼型（PRBS）由恢復的時鐘作為參考來形成數據信號的眼圖。必須捕獲10萬或1百萬個波形。HW CRUTest FixtureData Lane(0, 1 or 2)Raw Clock眼圖可以定義為:1) 所有位累積的眼圖2) 按位累積的眼圖—例如，數據中的第4位0123456789Pixel Ck PeriodCk to Data DelayClockInserted edges .jpg) .jpg) .jpg)   .jpg) .jpg) POE測試服務接口一致性測試服務電腦主板測試服務 |
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