圖5 取樣、光電耦合和局部放大電路原理圖
于是根據(jù)a、b、c、d 端不同的高低電平，就獲得了具有明顯差別的不同放電狀態(tài)。我們只需要設(shè)置參考電平 Uref1、Uref2，通過(guò)比較器 comp1 和 comp2邏輯電路組合獲得各狀態(tài)分量：短路信號(hào) E1、正常火花放電 E2、穩(wěn)定電弧放電 E3、開(kāi)路放電 E4 (原理見(jiàn)圖6)。
圖6 狀態(tài)判別邏輯原理圖
(3) 高頻計(jì)數(shù)與 PC 機(jī)接口
事實(shí)上經(jīng)過(guò)前面電路的處理，我們得到了電源脈沖內(nèi)部同步觸發(fā)信號(hào)a，用這些信號(hào)作用于計(jì)數(shù)器，完成對(duì)E1、E2、E3、E4 分離計(jì)數(shù)。考慮到微機(jī)控制系統(tǒng)運(yùn)算與終端輸入輸出的時(shí)間損耗，把信號(hào) a 進(jìn)行二分頻和四分頻得到 a1、a2，a、a1、a2 三者相與得到矩形脈沖窗 E，E 再分別與 E1、E2、E3、E4 組合，得到計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)選通信號(hào) E1、E2、E3、E4 (即實(shí)驗(yàn)時(shí)的取樣周期等于4個(gè)放電脈沖周期之和)。這一部分在實(shí)驗(yàn)的初級(jí)階段由軟件實(shí)現(xiàn)。
本文提出將監(jiān)控的輸入?yún)⒘看_定為穩(wěn)定加工時(shí)單位脈沖出現(xiàn)的火花放電次數(shù)，需要進(jìn)一步試驗(yàn)以驗(yàn)證其可行性。但它為電火花型腔加工的狀態(tài)檢測(cè)提出了一種新的嘗試。 以上所述的實(shí)驗(yàn)裝置是用來(lái)進(jìn)行實(shí)時(shí)采集電火花加工過(guò)程中間隙電壓的數(shù)據(jù)，僅僅需要制作軟件便可進(jìn)行實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)處理和在線(xiàn)控制。而且本實(shí)驗(yàn)引入 IPC 機(jī)作為 EDM 加工過(guò)程監(jiān)測(cè)和控制的硬件平臺(tái)，不僅可方便地解決人機(jī)界面問(wèn)題，對(duì) CAD/CAM 軟件擇優(yōu)直接用于數(shù)據(jù)系統(tǒng)，更重要的是就有可能在微機(jī)上模擬加工過(guò)程進(jìn)行實(shí)時(shí)處理和控制。
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